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58212-C LED 芯片電測系統技術(shù)參數

點(diǎn)擊次數：1257 更新時(shí)間：2020-08-11

58212-C LED 芯片電測系統

主要特色：

測試項目

電源特性量測 :
- Forward Voltage Measurement (Vf )
- Reverse Breakdown Voltage Measurement(Vrb)
- Reverse Leakage Current (Ir)
- SCR Detection
光特性量測 :
- Optical Power (mw, lm, mcd)
- Dominant Wavelength (Wd)
- Peak Wavelength (Wp)
- Full Width at Half Maximum (FWHM)
- CIExy - CCT - CRI

硬體設備

致茂58212-C是一臺自動(dòng)化的LED外延片/芯片探針測試設備，提供快速、準確的LED測量測且整體量測時(shí)間＜125ms *1。

系統的設計採用了靈活的設計為不同類(lèi)型的LED 結構包括橫向型，垂直型和倒裝芯片類(lèi)型。用戶(hù) 可以選擇合適的結構類(lèi)型LED測量。完整掃描程序可提供獨立的晶圓圖以保證測試的精度。專(zhuān)利的探針頭可防止待測物的刮傷並確保每一個(gè)LED 接觸。

透過(guò)致茂獨特的光學(xué)設計與元件可取得精確且穩定快速之光學(xué)數據如主波長(cháng)、峰波長(cháng)、色溫等，該系統具備完整之電性量測單元，無(wú)論順向電壓、漏電流、逆向崩潰電壓等 LED 電性特性，均可於一次滿(mǎn)足使用者的測試需求。

58212-C包含彈性調整的軟體操作界面及先進(jìn)的邏輯演算法使得生產(chǎn)效益大幅提升；完善的統計報表及分析工具可以讓使用者用輕鬆掌握生產(chǎn)狀況。

Note *1: 測試條件：在間距300um、5道電性測項、1道光學(xué)測項條件下取樣。由於LED的特性的差異，測量結果可能會(huì )有所不同。