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3672A/B/C/D/E矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀產(chǎn)品綜述3672系列矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀產(chǎn)品包括3672A(10MHz~13.5GHz)、3672B(10MHz~26.5GHz)、3672C(10MHz~43.5GHz)、3672D(10MHz~50GHz)和3672E(10MHz~67GHz)。3672系列矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀提供頻響、單端口、響應隔離、增強型響應、全雙端口、電校準等多種校準方式,內設對數幅度、
更新時(shí)間:2018-11-05
產(chǎn)品綜述
3672系列矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀產(chǎn)品包括3672A(10MHz~13.5GHz)、3672B(10MHz~26.5GHz)、3672C(10MHz~43.5GHz)、3672D(10MHz~50GHz)和3672E(10MHz~67GHz)。3672系列矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀提供頻響、單端口、響應隔離、增強型響應、全雙端口、電校準等多種校準方式,內設對數幅度、線(xiàn)性幅度、駐波、相位、群時(shí)延、Smith圓圖、極坐標等多種顯示格式,外配USB、LAN、GPIB、VGA等多種標準接口,除具有傳統矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀的全部測量功能外,還可以通過(guò)配置功能選件進(jìn)行混頻器/變頻器、增益壓縮二維掃描以及脈沖狀態(tài)下S參數的多功能綜合參數測試,能精確測量微波網(wǎng)絡(luò )的幅頻特性、相頻特性和群時(shí)延特性。該產(chǎn)品可廣泛應用于發(fā)射/接收(T/R)模塊測量、介質(zhì)材料特性測量、微波脈沖特性測量和光電特性測量等領(lǐng)域,是雷達、通信、導航等系統的科研、生產(chǎn)過(guò)程中必不可少的測試設備。
功能特點(diǎn)
校準類(lèi)型靈活可選,兼容多種校準件
支持多窗口、多通道測量,快速執行復雜測試方案
具有對數幅度、線(xiàn)性幅度、駐波、Smith圓圖等多種顯示格式
具有USB、GPIB、LAN和VGA接口
中/英文操作界面,12.1英寸1280*800高分辨率多點(diǎn)觸控顯示屏
錄制/運行,一鍵式操作簡(jiǎn)化測量設置步驟,提高工作效率
具有一體化脈沖S參數測量、時(shí)域測量、混頻器測量、增益壓縮二維掃描測量、支持THz擴頻、天線(xiàn)與RCS測量接收等功能
人性化用戶(hù)界面簡(jiǎn)潔直觀(guān),便于操作,可提高測試效率
校準類(lèi)型靈活可選,兼容多種校準件
3672系列矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀提供向導校準(自動(dòng)化校準)、非向導校準(使用機械校準件進(jìn)行直通響應校準、直通響應與隔離校準、單端口校準、增強型響應校準、全雙端口SOLT校準、TRL校準)、電校準(ECal)等多種校準類(lèi)型,可根據實(shí)際測試需要選擇同軸3.5mm校準件以及電子校準件等多種校準件,方便不同接口類(lèi)型器件的測試。
多窗口顯示所有測量通道
本產(chǎn)品具有多通道和多窗口顯示功能,最多支持64個(gè)通道,最多可同時(shí)顯示16個(gè)測量窗口,每個(gè)窗口最多可同時(shí)顯示8條測試軌跡,使觀(guān)測結果更加直觀(guān),用戶(hù)使用更加方便。
錄制功能實(shí)現一鍵自動(dòng)化測試
記錄用戶(hù)在使用儀器過(guò)程中所有操作步驟,同時(shí)可以隨時(shí)插入用戶(hù)編輯的提示對話(huà)框,并且準時(shí)彈出提示對話(huà)框,等待用戶(hù)確認,實(shí)現用戶(hù)交互功能,真正實(shí)現了智能儀器一鍵自動(dòng)化功能。
大動(dòng)態(tài)范圍
3672系列矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀采用混頻接收的設計理念,有效擴展整機的測試動(dòng)態(tài)范圍,可以滿(mǎn)足您對大動(dòng)態(tài)范圍的測試需求。
外設接口豐富,靈活實(shí)用
3672系列矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀采用兼容PC的嵌入式計算機模塊和Windows操作系統組成的軟硬件平臺,實(shí)現了測試儀器和個(gè)人計算機的*結合。用戶(hù)可以利用豐富的I/O接口(包括GPIB、USB和LAN等)完成數據通訊的zui佳選擇。
跡線(xiàn)噪聲小,測量精度高
3672系列矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀優(yōu)異的跡線(xiàn)噪聲指標極大地提高了整機的測試精度,可滿(mǎn)足用戶(hù)精確測量的需要,特別有助于小插損器件的精確測量。(下圖以3672B為例)
典型應用
時(shí)域分析可對設計進(jìn)行全面表征
3672系列矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀可通過(guò)配置時(shí)域測量選件實(shí)現測量結果頻域和時(shí)域之間的切換,用以確定器件、夾具或者電纜中的不連續點(diǎn)位置,實(shí)現故障精確定位。
增益壓縮二維掃描,提高測試效率
放大器等有源器件的增益壓縮測量應用(S86選件)僅需一次設置,一次連接,一次校準就可以得到放大器在頻域的所有增益壓縮參數(包括壓縮點(diǎn)的輸入功率,壓縮點(diǎn)的輸出功率,壓縮點(diǎn)的增益等)和線(xiàn)性參數(包括線(xiàn)性增益,輸入匹配,輸出匹配等)。具有:
快速準確的智能掃描;
一目了然的向導校準;
方便快捷的USB電子校準,USB功率校準;
二維掃描(頻率點(diǎn)掃功率和功率點(diǎn)掃頻率)一次完成;
多種壓縮方法——從線(xiàn)性/最大增益壓縮、從飽和態(tài)壓縮、回退法和X/Y法。
混頻器/變頻器測試
3672系列矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀四端口測量功能選件(400、S82、S83、S84選件)具有內置雙源,可以完成混頻器/變頻器標量和矢量參數測試。
1)混頻器/變頻器標量參數測量
混頻器/變頻器標量測量應用選件(S82選件)可以得到頻域的所有標量參數(包括輸入/輸出端口匹配、變頻增益、輸入/輸出端功率等)。相比以往測試方法其優(yōu)勢在于:
一次連接設置,多參數測試一次性完成;
人性化簡(jiǎn)易的校準界面;
方便快捷的USB電子校準,USB功率校準;
內置雙激勵源,無(wú)需額外信號源提供本振信號;
基于端口匹配的功率校準技術(shù);
為用戶(hù)解決高準確度的混頻器標量參數測試需求。
2)混頻器/變頻器矢量參數測量
矢量混頻/變頻器件測試應用選件(S83選件)集變頻器件的變頻損耗或增益、端口輸入/輸出功率(正向及反向)、駐波、相位及群時(shí)延等參數測量于一體的測試應用軟件。其主要特點(diǎn)包括:
測量過(guò)程需使用一個(gè)參考混頻器進(jìn)行表征;
內置雙激勵源,無(wú)需額外信號源提供本振信號;
測試參數全面,相比于標量混頻器測試增加了相位及群時(shí)延等參數的測試功能。
濾波器測試
3672系列矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀具有濾波器測試菜單,可以得到濾波器在頻域的所有通帶指標(包括帶寬,中心頻點(diǎn)頻率、Q值,左截止頻率、右截止頻率等)和阻帶指標(包括動(dòng)態(tài)范圍,隔離度等)。具有:
快速準確的分段掃描;
一目了然的校準向導;
快捷的高精度電子校準技術(shù);
通帶和阻帶指標一次測量完成。
一體化脈沖S參數測試
3672系列矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀具有脈沖調制信號輸出,可以完成脈沖狀態(tài)下S參數測試。具有:
內置四通道脈沖發(fā)生器和脈沖調制器,端口1、3可輸出脈沖調制信號;
完整的脈沖解決方案,可在寬帶模式和窄帶模式下進(jìn)行脈沖內定點(diǎn)、脈沖包絡(luò )和掃頻脈沖測量;
可與外部脈沖發(fā)生器和脈沖調制器同步,實(shí)現復雜脈沖同步測試。
自動(dòng)化測試
通過(guò)GPIB總線(xiàn)接口、網(wǎng)口提供靈活多樣的控制方式,只需完成設備的互聯(lián),發(fā)送命令即可。為您提供一體化自動(dòng)測試方案,包括自動(dòng)校準、自動(dòng)測量、自動(dòng)讀取、自動(dòng)打印等。具有:
簡(jiǎn)單的控制方式,一根網(wǎng)線(xiàn)、一個(gè)GPIB卡;
有效的降低成本,解放有限的人力資源;
在有效的時(shí)間內完成更多的測試,大大縮短開(kāi)發(fā)周期;
完成人工不可能完成的任務(wù),如精確時(shí)間控制,復雜環(huán)境下的測試等。
高速信號完整性測試
支持多端口Touchstone 格式的S參數導出,并且支持大端口數據導入
支持時(shí)域TDR 的快速測試與顯示
支持混合模S參數的快速定義和測試
方便設置差分對和設置串擾里的攻擊線(xiàn)和受害線(xiàn),求取近端串擾和遠端串擾
內置FEXT、NEXT、PSXT、ILD、ICN 和ICR 繪圖
支持眼圖生成,內置眼圖的模板測試功能
支持行業(yè)標準電氣層測試,包含USB Type C、IEEE 802.3,OIF CEI-25G/28G 等,并可以自定義標準
內置延時(shí)和抖動(dòng)計算模塊,方便進(jìn)行對內延時(shí)和對間延時(shí)計算
包含調整端口順序、S 參數拆分和S 參數合并等專(zhuān)業(yè)S 參數處理功能
內置報告模板,一鍵式繪制各種曲線(xiàn),自動(dòng)生成相應的word 和ppt文檔
內嵌多種去嵌方法,其中自動(dòng)直通夾具去嵌則用于移除測試夾具的影響,從而獲得被測器件的S 參數;自動(dòng)端口延伸可方便的利用開(kāi)路或短路補償夾具的損耗和相位,減少夾具對測試結果的影響。