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產(chǎn)品綜述6332A/B光回波損耗測試儀內置2×2光開(kāi)關(guān)，可快速實(shí)現光器件插入損耗和回波損耗雙向測試。光回波損耗測試時(shí)，不需要在光纖末端進(jìn)行纏繞操作或使用匹配液，顯著(zhù)提高光回波損耗測試效率。通過(guò)內置激光器功率檢測模塊，實(shí)現光插入損耗準確測試。產(chǎn)品廣泛應用于光纖通信科研、教學(xué)和生產(chǎn)領(lǐng)域。
更新時(shí)間：2018-11-09
產(chǎn)品綜述
6332A/B光回波損耗測試儀內置2×2光開(kāi)關(guān)，可快速實(shí)現光器件插入損耗和回波損耗雙向測試。光回波損耗測試時(shí)，不需要在光纖末端進(jìn)行纏繞操作或使用匹配液，顯著(zhù)提高光回波損耗測試效率。通過(guò)內置激光器功率檢測模塊，實(shí)現光插入損耗準確測試。產(chǎn)品廣泛應用于光纖通信科研、教學(xué)和生產(chǎn)領(lǐng)域。
功能特點(diǎn)
主要特點(diǎn)
回損測量無(wú)需纏繞或使用匹配液
適應不同產(chǎn)品的端面回損測試，待測光纖跳線(xiàn)短至70cm
全自動(dòng)雙波長(cháng)光插回損同時(shí)測試
單向和雙向測試，縮短測試時(shí)間
設定不同插回損閾值
同時(shí)顯示插回損測試結果
保存參考和待測的測試結果，測試裝置不變的話(huà)，可以直接調用保存的參考數據
回損測量無(wú)需纏繞或使用匹配液
儀器采用光時(shí)域反射技術(shù)，區別于傳統的光連續波反射技術(shù)，相應地避免了光回波損耗測量過(guò)程中的纏繞或者使用匹配液，提高了測試效率。
適應不同產(chǎn)品的端面回損測試，待測光纖跳線(xiàn)短至70cm
不同型號儀器測試的回波損耗分別能低至14dB和高達80dB，這樣，可以根據產(chǎn)品回波損耗值來(lái)選擇不同型號的儀器。儀器設計了窄脈寬的激光器脈沖光驅動(dòng)電路，當待測光回波損耗超過(guò)40dB時(shí)，待測光纖跳線(xiàn)可短至70cm。
全自動(dòng)雙波長(cháng)光插回損同時(shí)測試
測試過(guò)程中，選中雙波長(cháng)之后，參考測試可顯示雙波長(cháng)的輸出光功率，待測件測試可顯示雙波長(cháng)的光插入損耗和光回波損耗測試結果。
單向和雙向測試，縮短測試時(shí)間
儀器通過(guò)內置2×2光開(kāi)關(guān)，可以從不同輸出端口輸出脈沖光，從而實(shí)現單雙向測試功能。雙向測試時(shí)，一次連接光纖跳線(xiàn)的兩個(gè)端面，一次測試即可測出跳線(xiàn)的光插入損耗和這兩個(gè)端面的光回波損耗，從而使測試時(shí)間減半。
設定不同插回損閾值
進(jìn)入儀器設置測試條件界面，在插入損耗閾值和回波損耗閾值后面的窗口中輸入相應的數值，那么在測試結果中插入損耗高于閾值和回波損耗低于閾值會(huì )顯示為紅色，其他為藍色。
典型應用
如下圖所示，使用6332A/B光回波損耗測試儀同時(shí)測試FC/APC—FC/APC型跳線(xiàn)的光插入損耗和光回波損耗。
對6332A/B光回波損耗測試儀進(jìn)行參考測試之后，接入待測跳線(xiàn)，點(diǎn)擊測試鍵，即可測出待測光纖跳線(xiàn)的光插入損耗和光回波損耗。
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